激光粒度分析儀Topsizer Plus

激光粒度分析儀Topsizer Plus介紹

      激光粒度分析儀Topsizer Plus 是繼廣受贊譽的Topsizer 后，作為公司推出的又一款粒度分析儀器。該儀器引入了國ji的光學設計，采用化的供應鏈體系，使激光衍射法的測試范圍達0.01-3600um，代表了當前國產激光粒度儀的最gao技術水平。Topsizer Plus保持了Topsizer量程寬、重復性好、分辨力高、真實測試性能強和智能化程度高等優點，通過進一步提升光學設計、硬件和反演算法，拓展了其測試范圍以及實際測試性能，應用遍及化工、機械、建材、能源、醫藥等現代工業的各個領域。

       在鋰離子電池、制藥、水文和精細化工等諸多行業，很多用戶選擇公司激光粒度儀，尤其是Topsizer型號，除了對公司品牌和技術的信賴外，還因為其測試結果準確。不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負極材料等，Topsizer系列產品保證了測試結果和分析能力與國內外、行業上下游黃金標準保持一致，這不僅為用戶節省了方法開發和方法轉移上的時間和成本，更重要的是可避免粒徑檢測不準帶來的經濟損失和風險，無論在研發、過程控制還是質量控制上，都能夠為用戶帶來真正的價值。

一、技術指標

1.測量范圍：0.01-3600μm（取決于樣品）

2.測量原理：全量程米氏散射理論

3.重復性誤差：≤0.5%（取決于樣品）

4.準確性誤差：≤±0.6%（取決于樣品）

5.測量速度：常規測量10秒內完成

6.進樣方式：

濕法自動化測試*，進樣器采用帶進口電機的大功率精密離心泵，攪拌速度可達4000轉/分鐘，內置超聲，均為無級連續可調（*配SCF-105B時）；

干法自動化測試*，進樣器分散工作壓力0.05-0.6MPa無級連續可調，壓電陶瓷晶體振動進樣速度0-99% 無級連續可調。（*配DPF-110時）。

7.光路系統：

雙光源設計，采用進口氦-氖激光器，波長0.6328微米；并有半導體藍光光源，波長0.466微米，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。激光功率始終穩定，功率波動小于0.5%；

儀器設計符合國際激光安全規范，具備激光束自動防護功能；

    采用一體式高精度全鋁合金光學平臺，長期穩固可靠；

單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構。光路系統全封閉，有效解決粉塵污染問題；

探測器自動對中。

8.檢測器：

探測通道數103個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統，探測角140度，最小探測角0.016度，無盲區。

9.軟件功能：

豐富的自定義報表功能，方便用戶靈活的獲取數據和定義報表樣式；

軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化；

具備SOP標準操作流程功能；

多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要；

有導航功能的清晰、明了的流程界面；

具備人工智能，儀器具備自檢功能，自動識別進樣系統；

每次測量前能自動測量電背景，有效消除電噪聲對測試結果的影響；

多種方式的測量數據導出，方便數據交流；

*、開放的樣品特性參數數據庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數；

體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。

提供符合GMP附件《計算機化系統》要求的軟件解決方案，具備用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能。

10.外觀尺寸：

主機：1330×266×380 mm

循環進樣器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 

干法進樣器：305×245×295mm（DPF-110）

二、工作原理：

一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒，光波會發生散射（衍射）偏轉，偏轉的角度跟顆粒的大小相關，散射（衍射）現象可以通過 “Mie散射理論 ”來描述。顆粒粒徑越大，光波偏轉的角度越小；顆粒粒徑越小，光波偏轉角度越大。激光粒度分析儀就是利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。

公司結合了源自國內外的技術，通過對光學、算法、機械、電子、計算機等系統的整合和優化，使公司激光粒度儀具備重復性良好、動態測量范圍寬廣、操作簡單方便等優點。

三、的光學系統

雙光源技術

Topsizer Plus激光粒度分析儀采用雙光源設計，紅光主光源為進口氦-氖激光器，波長0.6328μm；并有半導體藍光輔助光源，波長0.466μm，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國產激光粒度分析儀中，紅藍雙色光源技術為公司獨jia采用。

進口高性能氦氖激光器及電源

采用以長壽命，低噪聲，高穩定性著稱的進口氦氖激光器及配套激光電源，為儀器提供近乎光學質量的偏振光源。在氣體激光器本身帶來的穩定波長基礎上，Topsizer Plus激光粒度分析儀采用的高性能光源系統同時具備功率穩定, 預熱時間短, 偏振比高而穩定，模式純度高等高性能激光粒度儀必須的光學特性。確保儀器在不同工作環境下都能保持穩定工作，并帶來無需標定的準確性性能。

直線光路設計

Topsizer Plus激光粒度分析儀光路系統采用密閉式直線光路設計，無多余反射光學部件造成的雜散光，亦無粉塵污染干擾，同時采用高精度全鋁合金光學平臺，確保光路穩固可靠。

后傅立葉變換單鏡頭設計

單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約，使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制；而且單鏡頭光路中的折射、反射面減到最少，可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲低水平，提高了儀器測量時的信噪比。

長焦距的傅里葉透鏡

Topsizer Plus激光粒度分析儀選用具有較長焦距的傅立葉透鏡，這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離（也就是有效焦距），從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號，大大增強了儀器對大顆粒的測試能力，儀器的測量上限達3600μm。

合理分布、高感光度的進口光電探測器

Topsizer Plus激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進口光電探測器，確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數多達103個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統，探測角大于140度，最小探測角0.016度。結合藍光散射信號，實現了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收，有效保證顆粒散射光能信息的全面準確獲取。

智能自動對中

智能軟件控制自動對中系統保證了精確的光學對中。自動對中在幾十秒內即可完成，既可作為自動測量的一部分，亦可在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統保證了多次測量的重復性。

出色的分散系統

濕法進樣系統：標配SCF-108循環進樣器，采用的循環回路設計，大功率精密離心泵，攪拌速度可達4000轉/分鐘，具有高效率的分散、清洗、排干能力。內置功率100W超聲探頭，超聲強度無級連續可調。標配1000毫升樣品池，可根據客戶需求更換容量。

可選SCF-105B全自動循環進樣器，除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼，配置高效率50W底部超聲及速度可達4000轉/分鐘的精密攪拌裝置，均無極連續可調。

根據需要可選擇更多不同特性（例如微量、微量循環、耐腐蝕等）的濕法進樣器。

干法進樣系統：標配DPF-110自動干法進樣器，分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調，三重可調下料機

構設計，可適應于各種樣品測試對分散強度的要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感

器，測試窗口全密閉，具有負壓保護裝置，可有效防止窗口和主機的污染。

四、功能*的分析軟件

豐富的自定義報表功能，方便用戶靈活的獲取數據和定制報表樣式。

用戶可以靈活定義報告的標題、Logo，選擇在報告中顯示的模塊，并對這些模塊進行設置。如可調整行數、列數，坐標軸范圍，報告內容和參數等均可根據需要設定。

軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化。流程界面清晰明了，擁有導航功能。

儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統；每次測量前能自動測量電背景，有效消除電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試，手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

具備SOP標準操作流程，減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化。

SOP測量程序編輯及運行：

多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要。體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。可根據用戶需要設置的粒徑段。

*、開放的樣品特性參數數據庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數。

 多種方式的測量數據導出，方便數據交流。

具有兼容CFDA/FDA  cGMP 21CFR 要求的用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能

五、的儀器性能

Topsizer Plus對于Topsizer的升級中的一個重要特點是保留了在 0.02-2000um段數據與 Topsizer一致。通過光路、硬件和算法的升級進一步提升了測試范圍至0.01-3600um。

寬廣的測量范圍

與市場上其他使用不同技術通過拼接的方案提高測試范圍不同，Topsizer Plus的實測范圍為0.01-3600um，使用靜態光散射一種技術實現從亞微米顆粒到毫米級顆粒的檢測，嚴格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的國標要求，并能滿足不同粉體行業對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。

寬分布樣品

對大顆粒具有*測試能力

7-14目玻璃微珠

對納米、亞微米等超細顆粒具備識別能力

100nm latex

杰出的分辨能力

Topsizer Plus能夠精確測定樣品中顆粒分布的微小變化，準確反映樣品的實際粒度分布，能充分滿足技術研究和質量控制的需要。圖中的混合物樣品為5.1um/14um/37.8um標樣按比例配置。

良好的重復性

Topsizer Plus采用全自動的激光校正系統、自動對中系統，從而確保了激光角度校準的準確度，避免了光路的飄移，確保測試的重復性誤差小于0.5%（標準粒子D50）。

良好的再現性

不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現性。

 

快速的測試速度

Topsizer Plus優秀快速的分散系統為儀器的快速測試提供了良好前提，使常規的測試能在10秒內快速完成，大幅提升了測試的效率，更好的滿足了用戶的需求。

超高靈敏度

多達103個光電探測通道，由雙光源及前向、側向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區檢測系統，探測角度140度。每次測試之前，軟件自動檢測信噪度，使儀器對大小顆粒的微小變化有著超高的靈敏度。

適應性

可選具有分散能力分散系統，即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，從而最da程度滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。

六、技術指標

1.測量范圍：0.01-3600μm（濕法，取決于樣品），0.1-3600μm（干法，取決于樣品）

2.測量原理：全量程米氏散射理論

3.重復性誤差：≤0.5%（取決于樣品）

4.準確性誤差：≤±0.6%（取決于樣品）

5.測量速度：常規測量10秒內完成

6.進樣方式：

濕法自動化測試*，進樣器采用帶進口電機的大功率精密離心泵，攪拌速度可達4000轉/分鐘，內置超聲，均為無級連續可調（*配SCF-105B時）；

干法自動化測試*，進樣器分散工作壓力0.05-0.6MPa無級連續可調，壓電陶瓷晶體振動進樣速度0-99% 無級連續可調。（*配DPF-110時）。

7.光路系統：

雙光源設計，采用進口氦-氖激光器，波長0.6328微米；并有半導體藍光光源，波長0.466微米，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。激光功率始終穩定，功率波動小于0.5%；

儀器設計符合國際激光安全規范，具備激光束自動防護功能；

    采用一體式高精度全鋁合金光學平臺，長期穩固可靠；

單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構。光路系統全封閉，有效解決粉塵污染問題；

探測器自動對中。

8.檢測器：

探測通道數103個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統，探測角140度，最小探測角0.016度，無盲區。

9.軟件功能：

豐富的自定義報表功能，方便用戶靈活的獲取數據和定義報表樣式；

軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化；

具備SOP標準操作流程功能；

多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要；

有導航功能的清晰、明了的流程界面；

具備人工智能，儀器具備自檢功能，自動識別進樣系統；

每次測量前能自動測量電背景，有效消除電噪聲對測試結果的影響；

多種方式的測量數據導出，方便數據交流；

*、開放的樣品特性參數數據庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數；

體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。

提供符合GMP附件《計算機化系統》要求的軟件解決方案，具備用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能。

10.外觀尺寸：

主機：1330×266×380 mm

循環進樣器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 

干法進樣器：305×245×295mm（DPF-110）