芯片級電磁兼容測試系統

芯片級電磁兼容測試系統

我公司能提供滿足以下標準要求的芯片級電磁兼容測試系統的全套解決方案，歡迎。

一、IEC 61967系列標準為電磁發射測量標準，包括如下9項標準：

    IEC 61967-1: 通用條件和定義

    IEC 61967-1-1:通用條件和定義-近場掃描數據交換格式

    IEC 61967-2:輻射發射測量-TEM小室和寬帶TEM小室法

    IEC 61967-3:輻射發射測量-表面掃描法

    IEC 61967-4: 傳導發射測量-1Ω/150Ω直接耦合法

    IEC 61967-4-1:傳導發射測量-1Ω/150Ω直接耦合法和應用指南

    IEC 61967-5:傳導發射測量-法拉第籠法WFC

    IEC 61967-6:傳導發射測量-磁場探頭法

    IEC 61967-8:輻射發射測量-帶狀線法

二、IEC 62132系列標準為電磁抗擾度測量標準，包括如下7項標準：

    IEC 62132-1: 通用條件和定義

    IEC 62132-2: 輻射抗擾測量-TEM室和GTEM室法

    IEC 62132-3: 大電流注入法BCI

    IEC 62132-4: 射頻功率直接注入法

    IEC 62132-5: 法拉第籠法WFC

    IEC 62132-8:輻射抗擾測量-帶狀線法

    IEC 62132-9:輻射抗擾測量-表面掃描法

    三、IEC 62215系列標準為脈沖抗擾度測量標準，包括如下2項標準：

    IEC 62215-2:同步瞬態注入法

    IEC 62215-3:非同步瞬態注入法